1. Universidad Autonoma del Estado de Hidalgo
  2. Tesis
  3. Tesis de Doctorado
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.authorGarcía Lechuga, Luis-
dc.date.accessioned2023-12-18T20:17:54Z-
dc.date.available2023-12-18T20:17:54Z-
dc.date.issued2014-05-
dc.identifier.govdocDRCIIND .10742 2014-
dc.identifier.otherAT18666-
dc.identifier.urihttp://dgsa.uaeh.edu.mx:8080/bibliotecadigital/handle/231104/3491-
dc.descriptionEn este trabajo se presenta una técnica no invasiva para analizar estructuras transparentes como vidrios o acrílicos y superficies de interés para el sector industrial, para este fin se desarrolló e implementó un sensor interferométrico que usa técnicas de corrimiento de fase por polarización para obtener la información de las deformaciones en fase ocasionadas por el objeto transparente; el sistema presentado consiste de dos sensores acoplados: un sistema que genera dos haces con un divisor polarizante y un sistema 4-f con rejilla de difracción para generar n-réplicas de los haces incidentes. La rejilla de difracción genera n/2-interferogramas sobre los cuales se puedan obtener los corrimientos de fase, a partir de los cuales se puede extraer la información de fase generada por el objeto de prueba lo que permitirá calcular las características de cada superficie. El sistema tiene la ventaja de producir dos haces con separaciones ajustables lo que permite usar cualquier tipo de elemento difractivo al alcance. Debido a la estabilidad del sistema este puede ser implementado en ambientes industriales para cuantificar la calidad de estructuras trasparentes producidas en una línea de producción. Actualmente el proyecto de investigación está concluido; sin embargo, quedó abierto a las posibles aplicaciones que se le puedan dar a la técnica propuesta.es_ES
dc.language.isoeses_ES
dc.publisherICBI-BD-UAEHes_ES
dc.subjectInterferometríaes_ES
dc.subjectOnda planaes_ES
dc.subjectDifracción de campo lejanoes_ES
dc.subjectModulación de fase con polarizaciónes_ES
dc.subjectLa Difracción de Fraunhoferes_ES
dc.titleDiseño e implementación de un sistema interferométrico de bajo costo para medición de propiedades físicas de objetos de fase delgadaes_ES
dc.title.alternativeCiencias en Ingeniería Industrial-
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